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2020/11/24(火)お知らせ
イオンビーム応用装置を使って断面観察試料の作製　（マックシステムズ　テストサポートチーム）

イオンビームで断面加工して、 SEM（電子顕微鏡）でB'gの接合部を観察する紹介動画になります。



弊社テストサポートチームでは確かな技術と品質で、多種多様な電子部品の
信頼性に重要な要素である断面観察・解析をご提供しております。

ご質問などあればお気軽にお問い合わせください。

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計測・試験のトータルプランナー 株式会社マックシステムズ 株式会社マックシステムズ MAC SYSTEMS CORPORATION

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