計測・試験のトータルプランナー 株式会社マックシステムズ

テスト用サンプルの実装から環境・寿命試験、故障解析まで、一貫したサービスの提供をはじめ、ISO／IEC17025に基づく専門性の高い管理体制による試験所運営など、各界のお客様により一層安心してご利用いただける体制づくりに努め、信頼に足る試験結果を提供しています。

• サンプル製作
• 環境試験
  （温湿度・熱衝撃・複合振動試験・塩水噴霧 など）
• 寿命試験 （接合試験・絶縁信頼性・LSI配線信頼性 など）
• 故障解析・コンサルティング （錫ウイスカ解析、BGAクラック解析 など）

評価対象電池
［セル電池・モジュール電池・パック電池］

• 初期性能評価
  保存前電池質量測定、定格容量測定、高率放電性能測定、放電性能特性測定、サイクル寿命性能測定
• 保存性能、保存後性能評価
  評価前電池質量測定、定格容量測定、保存試験(1～24ヶ月)、保存後サイクル寿命試験
• ご要望の評価試験
  充電、放電容量測定、サイクル特性、温度特性 など

情報機器など多くのモノづくりに不可欠な電子部品。マックシステムズは2015年にTS試験所（同年ISO/IEC 17025 認定（PJLA　認定＃81004））を開所し、確かな技術と品質で、多種多様な電子部品の信頼性に重要な要素である断面観察・解析をご提供しています。

• 機械研磨 はんだ接合部のボイドやクラックなどお客様の目的に応じて精密研磨が可能です。
• イオンミリング加工 機械研摩では難しい「銅・アルミ・金」をダレやダメージを少なく製作する加工技術となります。
  50㎜×50㎜×10㎜の大型サンプルも可能です。
• 観察業務 試料状態や観察目的によって金属顕微鏡・マイクロスコープや走査電子顕微鏡（SEM）を使用し観察データをご提供いたします。
  走査電子顕微鏡はインターネットを利用し、お客様のパソコンにてリアルタイムで観察・指示が可能で断面観察だけでなくウィスカなどの表面観察も実施しています。
• 紹介動画 ●電子部品の断面観察
  　https://youtu.be/9nLjoVC8CGs?feature=shared
  電子基板に実装されたコンデンサを機械研磨で断面出しを行い、マイクロスコープではんだ部を観察します。
  ●BGAパッケージの取り外し
  　https://youtu.be/p0UJAqPSVTw?feature=shared
  BGA取り外し装置・ヒートガン・はんだゴテなど一般的に使用される機器を使わずに、電子基板に実装されたBGAパッケージを取り外します。
  ●高倍率観察・分析に適した精密研磨
  　https://youtu.be/zxypSMYg-GM?feature=shared
  イオンビーム応用装置を使って断面観察試料を作成し、SEM(電子顕微鏡)で断面観察します。

• 高速ダイナモ装置 N-T測定・効率測定・湿度測定・振動計測・騒音計測・効率マップ生成・N-Tマップ生成・マップ生成 など
• 極低速ダイナモ装置 モータ定数測定・トルクリプル測定・コギングトルク測定 など
• 計測制御システム 測定したデータを視覚的にご判断いただけます。また、試験結果のデータ・レポートを提出します。