温湿度試験器のスタンダードとして「HIFLEXαシリーズ」をはじめ、
ネットワーク対応型小型チャンバの「KEYLESSシリーズ」電界シールド技術を融合した
「SHIELDシリーズ」など各種取り揃えております。その他、結露サイクル試験器（Dew Cycleテスト環境試験器）高度加速寿命試験器（HAST）の 「PLAMOUNT Hシリーズ」も取り揃えております。
高温恒温器HISPECｼﾘｰｽﾞは、７タイプ40モデルで構成され、バリエーション豊かなラインナップとなっています。また、34種類の標準オプションをご用意していますので、個別 用途にジャストフィットな恒温器構築が可能です。
高低温へ供試体を移動させることにより、より急激な温度変化を可能としたサーマルショック試験器。ダンパによる冷熱風切り替え方式の「WINTECH エアーシリーズ」（気槽式）やランニングコストの低減を図る新機構採用した「WINTECH リキッドシリーズ」（液槽式）やネットワーク対応型の「KEYLESSシリーズ」など各種取り揃えております。
「使う人にやさしい製品」「ユーザニーズに柔軟に対応できる製品」を基本コンセプトとし、基本性能や機能面 の充実をはじめ、優れた安全性とユニット化設計により、現地での設置工事の短期化と品質向上をあわせ、ユーザーニーズに合わせた32機種をラインナップ。最適な機器を選ぶことができます。
絶縁劣化特性評価システム 「SIR 12」イオンマイグレーション測定と絶縁抵抗測定が同時に可能で、40msec／8chという極めて早い周期で漏れ電流を連続測定できるため、イオンマイグレーション現象を正確に捉えることができるシステムです。
接合信頼性評価システム 「MLR」
温度サイクル試験器と同期化して、微小抵抗を連続測定可能なシステムです。
イベントディテクタ 「ED 70S」
抵抗変化を多チャンネル同時に高速かつ連続測定することが可能です。
容量性絶縁特性評価システム 「TCI 50」
容量成分を持つ電子部品の絶縁特性を自動計測することができます。
コンデンサ（温度）特性評価システム 「MCL 41」
コンデンサの主要特性を連続自動計測可能です。
コンデンサ寿命試験システム 「TLE 60」
長時間にわたるコンデンサの寿命試験を全自動化することが可能です。
酸化膜信頼性評価システム 「TDDB」
多数の試料に対し、ゲート酸化膜の信頼性評価を同時に測定することが可能です。
エレクトロマイグレーション評価システム「EMテスタ」
EM評価において大電流印加、高精度測定を実現することが可能です。
GMRヘッド信頼性評価システム 「GMR」
GMRヘッド用のエレクトロマイグレーション装置です。
二次電池充放電試験システム 「SBT 50」
充放電試験の自動化、材料開発、特性試験の省力化を実現することが可能です。。
「3CS」と「ECN」の2つのシステムは、1台のパソコンで複数の環境試験器や自動計測システムを集中管理・監視でき、ネットワークを使い遠隔地から環境試験器や自動計測システムの運転管理とデータ閲覧が可能なネットワークシステムです。
複層ガラス試験器/はんだ浸せき試験装置/ダイレクトヒーティングシステム/ICピンセレクタ/機械的信頼性評価システム/はんだ槽耐湿耐光試験と冷熱繰り返し試験を行うことができる「複層ガラス試験器」やMIL、JIS規格に準拠した、「はんだ浸せき試験装置」「はんだ槽」、試料を直接加熱し、試料の実温度で温度制御を実行できる、「ダイレクトヒーティングシステム」、繰り返し曲げ信頼性評価システムである「機械的信頼性評価システム」など、数多くの用途別 専用器をとりそろえております。
